測試技術(shù)協(xié)議

上海集成電路設計研究中心(甲方)和XXXXXXXXXXXXX公司(乙方)經(jīng)友好協(xié)商，對XXXXXXXX項目的有關(guān)測試技術(shù)指標問題達成如下協(xié)議：

一： 乙方應在本協(xié)議簽定  天內(nèi)將芯片資料，測試碼提供給甲方。

二： 甲方在乙方提供封裝好的芯片后  天內(nèi)，將測試分析結(jié)果提交給乙方。

三： 具體測試要求

甲方按乙方要求，在測試時將PA4、PA5、PA6、PA7端經(jīng)3.3K電阻上拉至5伏。

甲方在測試分析時，應讓XXXX芯片工作在5V。

乙方提供XXXX功能測試碼文件(TXT格式)兩份。

甲方使用乙方提供的功能測試碼文件，在1MHZ下對樣品進行測試分析。

乙方認為正常情況下，樣品的功能測試應全部通過，參數(shù)測試結(jié)果應在下表給定的范圍內(nèi)。

測試參數(shù)(常溫) 測試條件 最大值 典型值 最大值 單位  

靜態(tài)工作電流 VDD=5V uA  

動態(tài)工作電流 VDD=5V uA  

輸入高電平電壓 VDD=5V V  

輸入低電平電壓 VDD=5V V  

輸入高電平電流 VDD=5V,VIH=5V uA  

輸入低電平電流 VDD=5V,VIL=0V uA  

輸出高電平電壓 VDD=5V V  

輸出低電平電壓 VDD=5V V  

輸出高電平電流 VDD=5V,VOH=4.2V mA  

輸出低電平電流 VDD=5V,VOL=0.4V mA

如乙方提供的樣品中有80%滿足以上要求，甲方應向乙方出具一份測試分析報告，并以附件形式(磁盤文件，TXT格式)提供詳細的測試數(shù)據(jù)。

乙方若對甲方出具的測試分析報告及測試數(shù)據(jù)有任何疑問，必須在甲方測試分析工作完成之日起的兩個月內(nèi)向甲方提出。

乙方若須增加測試分析內(nèi)容，必須與甲方協(xié)商解決。

上海集成電路設計研究中心 XXXXXXXXXXXXX公司